文献の詳細

言語	英語
著者	Jun Sun, Yushinobu Hotta, Yutaka Katsuyama, Satoshi Naoi
論文名	Low resolution character recognition by dual eigenspace and synthetic degraded patterns
書名	Proc. 1st ACM workshop on Hardcopy document processing
ページ	pp.15-22
年	2004年

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